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激光粒度儀主要依據(jù)Fraunhofer 衍射和Mie散射兩種光學理論。下面就激光粒度儀散射理論的發(fā)展歷史作簡要闡述：

散射理論的研究開始于上一世紀的70年代。1871年，瑞利(Lord Rayleigh)首先提出了的瑞利散射定律，并用電子論的觀點解釋了光散射的本質(zhì)。瑞利散射定律的適用條件是散射體的尺寸要比光波波長小。1908年，米氏(G. Mie)通過電磁波的麥克斯韋方程，解出了一個關(guān)于光散射的嚴格數(shù)學解，得出了任意直徑、任意成分的均勻粒子的散射規(guī)律，這就是的米氏理論。1957年， H. C. Van de Hulst 出版了關(guān)于微小粒子光散射現(xiàn)象的專著，總結(jié)了粒子散射的普遍規(guī)律，受到科技界人士的廣泛注意，這本專著被認為是光散射理論領域的經(jīng)典文獻。1969年，M . Kerker 系統(tǒng)論述了光及電磁波散射的一般規(guī)律，為散射理論的進一步發(fā)展做出了貢獻。1983年，C. F. Bo hren ，O. R. Huff man綜合前人的成果，又發(fā)表了關(guān)于微小粒子對光散射及吸收的一般規(guī)律，更地解釋了光的各種散射現(xiàn)象。至此，散射理論的體系建立起來了。

1976年J . Swit henbank 等人利用米氏理論在時( d為散射粒子的直徑，λ為光波波長)的近似式 ——夫瑯和費(Franhofer)衍射理論發(fā)展了激光粒度儀，開辟了散射理論在計量測試中的又一新領域。由于光散射法適用范圍寬，測量時不受顆粒光學特性及電學特性參數(shù)的影響，因此在隨后的三十年時間內(nèi)已成為粒度計量中為重要的方式之一。